1 μg 可读性，1 μg 重复性，最大秤量为 800 mg
小于 0.8ug 的重复性对于获得更优称量可靠性来说至关重要的。 XS 微量天平可减少不必要的重复测试以及对昂贵样品的浪费，同时可保证在称量最小的微量样品时也具有准确的称量结果。
易于操作
具有可定制化的 XS 触摸终端可确保操作更加简单、
直观及无差错。
用户指导过程管理
梅特勒-托利多的 LabX 实验室软件可在天平触摸屏上显示的灵活的 SOP 用户指南。 利用自动数据处理、计算和报告，具有 LabX 软件的天平可以轻松实现过程安全性和可追溯性要求，并支持您实现无纸化实验室。
扩展更加智能
每个 XS 微量天平可以根据应用要求进行优化。 即使在
恶劣的称量条件下，U 型去静电装置电极等配件依
然可确保您称量结果的准确性与再现性。
规格参数
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XS3DU | |
| 分辨率 | 10 µg;1 µg |
| 可读性 | 10 µg;1 µg |
| 合法交易 | No |
| 尺寸 (高x宽) | 113 mm x 128 mm |
| 最大秤量 | 3.1 g/800 mg |
| 最小称量值 (USP)，典型值 | 1 mg |
| 校正 | 内部/ FACT |
| 秤盘直径 | 27 mm |
| 稳定时间 | 6 s |
| 线性误差（典型值）± | 4 µg |
| 重复性（典型） | 0.5 µg |
| 重复性（校验砝码） | 5 µg (0.2 g) |